测试技术资料-维库电子市场网【第153页】

在射频芯片从设计到交付的整个流程中，探针的精准测试不仅是至关重要的核心环节，同时也是极易出现偏差的难点所在。测试过程中各种寄生效应如同顽固的 “敌人”，始终干扰...

设计应用时间：2026/8/28 阅读：287

电容电压（CV）测量作为半导体材料与器件工艺表征的关键手段，在 MOS 器件分析领域应用广泛。通过 CV 测试数据，能够提取诸如氧化物可动电荷、氧化层电容、界面陷阱、掺杂分布、平带电压、掺杂浓度、少数载流子寿命以及输入输出电容等众...

基础电子时间：2026/8/26 阅读：128

在半导体芯片测试流程中，量产 ATE 筛选测试和 CHAR 特性测试常常被人们混淆，然而，二者在核心目的、测试逻辑和执行标准上存在显著差异。日常量产 ATE 测试主要进行规格内...

设计应用时间：2026/8/25 阅读：170

电磁干扰(EMI)合规性常被视为最后的障碍而非设计目标，往往在原理图完成、PCB布局结束甚至原型板制成后才予以考虑。本系列文章的核心观点是：合规性不应是意外结果；如果从...

设计应用时间：2026/8/21 阅读：275

在电源系统设计的关键阶段，针对电源输出开展全面、深入的测试，是保障系统稳定性与可靠性的核心环节。这一系列测试着重评估电源输出在快速变化负载条件下的性能表现，其目...

设计应用时间：2026/8/21 阅读：248

电力电子技术以功率器件为基石，通过对电能进行高效变换与精确控制，实现电压、电流、频率等电参量在不同形式之间的转换。典型的变换形式包括 AC - DC（整流）、DC - DC（...

技术方案时间：2026/8/19 阅读：221

从 Wi-Fi 4 开始，Wi-Fi 技术便不断演进，每一代更新都将提升峰值速率作为重要目标。通过扩展信道带宽、采用更高的调制方式以及增加空间流数量，Wi-Fi 技术取得了显著的进...

技术方案时间：2026/8/14 阅读：307

电磁兼容性（EMC）合规问题已然成为一大棘手的困扰。电磁干扰（EMI）不仅可能影响产品自身的性能，还可能对周围的电子设备造成干扰，从而引发一系列的问题。因此，如何确保产品能够一次性通过 EMI 合规性测试，成为了工程师们亟待解决的...

基础电子时间：2026/8/13 阅读：150

在现代科技飞速发展的今天，高可靠性电源的研发成为众多领域关注的焦点。高等级的行业能效认证对产品的能量转换效率提出了极为苛刻的技术要求。要实现从 85% 到 90% 以上的...

技术方案时间：2026/8/12 阅读：252

在当今的高速数字通信与计算互连领域，400G/800G/1.6T 以太网等标准的广泛应用，使得单通道传输速率大幅提升，从 28GBaud 跃升至 56GBaud 甚至达到 112GBaud。在如此高的传...

设计应用时间：2026/8/7 阅读：257

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