PTW7200
爱德华
• 高度灵*，全自动测试、分选拣片； • 快速转换不同芯片尺寸和可预设置输出载体的变化； • 芯片测试参数可以任意选择和设定； • 自定义芯片分级模式，可支持 80 级（ Bin ）的分级； • *的图像识别系统； • 可调节的运行速度，高度自动化； • 自动分析系统运行结果，并智能是作出相应的处理； • 完整的资料库储存记录； • 方便使用的报表功能； • 软件界面友好，操作简单，易学好懂。 4 、设备组成 PTW7200 芯片自动分选机分选机系统主要包括：可调节的芯片供料台、机械手、微探针芯片测试台、芯片 Bin 台、图形采集 CCD 系统、光电测试仪以及软件处理系统。 • 可调节的芯片供料台 芯片供料台包括一个高的二维伺服平台、高度灵敏的可调节顶针以及调节芯片圆环的旋转系统。 芯片供料台能够适应 3 英寸至 12 英寸（ 300mm ）在圆环或框架上的圆片。通过调节顶针的顶起的高度帮助机械手从供料台上拾取芯片。 • 机械手 PTW7200 型芯片自动分选机系统中包括两组机械手。一组机械手负责将芯片从芯片供料台转移到芯片测试台；另一组机
