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吉时利PXI产品线针对生产应用的混合测试系统

吉时利仪器公司(Keithley)日前发布新的PXI产品线,包括同步数据采集卡、多功能采集卡、高速模拟输出卡、130MS/秒的数字化仪、数字I/O模块、PXI机箱、嵌入式PC控制器、扩展卡(用于远程PC控制)和GPIB接口卡。该产品线作为使用高精度

分类:名企新闻 时间:2006/12/4 阅读:776 关键词:测试系统吉时利

吉时利针对生产应用的混合测试系统发布PXI产品线

针对不断增长的测量需求提供解决方案的行业吉时利(Keithley)仪器公司,日前发布新的PXI产品线。该产品线作为使用高精度仪器混合系统的一部分,专为高速自动化生产测试设计。测试工程师和设计师可将新KPXI高速数据采集和紧凑的触发同步特...

分类:新品快报 时间:2006/11/29 阅读:852 关键词:测试系统吉时利

应用材料为三星电子下一代液晶生产线提供AKT-55K矩阵测试系统

近日,应用材料公司下属AKT显示事业部宣布:三星电子集团定购了AKT-55KEBT(电子束矩阵测试器)作为其下一代薄膜晶体管液晶生产线首要的矩阵测试系统。这套系统用于三星公司韩国Tangieong新建的制造厂。该厂在目前业界的玻璃基板上生产平面

时间:2006/11/28 阅读:186 关键词:测试系统三星电子

爱德万SoC测试系统“进驻”清华大学微电子所

日前,清华大学微电子所购入爱德万测试(AdvantestCorp.)SoC测试系统之一T6575测试系统,作为清华大学微电子教学的主力设备;爱德万测试将为清华大学微电子所的科教建设提供有力的技术支持和完备的售后服务,支持中国IC测试产业的高速发

分类:业界要闻 时间:2006/10/23 阅读:305 关键词:清华大学

AC/DC与DC/DC电源模块虚拟测试系统的设计

引言近几年来,随着对电源产品多样性和复杂性的要求的加大,如何科学而快速地检测其性能和指标成了一大难题。原来的手动测量方式已不能满足生产厂家和用户的要求,测试自动化成为电源模块测试追求的目标。随着虚拟仪器技术和计算机测试技...

分类:业界要闻 时间:2006/9/13 阅读:1239 关键词:测试系统电源模块

产品易损性能与脆值测试系统

我们依据GB8171-87《使用缓冲材料进行的产品机械冲击脆值试验方法》开发了产品易损性能与脆值测试系统。它具有以下的功能:(1)与跌落试验机(图1)配合,测定包装件中产品的脆值,分析产品破损的原因或进行原型试验。(2)与冲击试验机配合...

分类:业界要闻 时间:2006/9/8 阅读:1403 关键词:测试系统

材料缓冲性能测试系统的设计

1前言我们从1990年开始与西北机器厂合作,开发生产缓冲材料冲击试验机。并用VisualC++作为软件开发平台,开发了材料缓冲特性的测试系统。经过多年来不断的完善,已经成为功能强大、性能稳定的测试系统。2003年该测试系统获得陕西省教学成...

分类:业界要闻 时间:2006/9/8 阅读:274 关键词:测试系统

该用生物传感器给测试系统“减减肥”了!

日立日前开发出一款半导体生物传感器芯片,首次将电气测量取代光吸收测量而运用于免疫分析中。日立公司表示,电气测量不需要大量的光学器件,可以建立起一个便于携带的低成本免疫分析测试系统,其外形能从一个冰箱的大小缩减到一台笔记本...

分类:名企新闻 时间:2006/8/27 阅读:292 关键词:测试系统生物传感器

一种数字集成电路测试系统的设计

摘要:介绍了一种数字集成电路测试系统的工作原理、组成。提出了系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构,可测试电平范围宽。关键词:数字集成电路测试功能测试通道板精密测量单元随着数字集成电路的广泛应用,测试系统就显得越来...

分类:业界要闻 时间:2006/8/19 阅读:344 关键词:测试系统集成电路

一种数字集成电路测试系统

摘要:介绍了一种数字集成电路测试系统的工作原理、组成。提出了系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构,可测试电平范围宽。关键词:数字集成电路测试功能测试通道板精密测量单元随着数字集成电路的广泛应用,测试系统就显得越来...

分类:业界要闻 时间:2006/3/31 阅读:1090 关键词:测试系统集成电路

安捷伦展示内存测试系统方案

安捷伦科技(AgilentTechnologies)在SemiconWest展会上推出它的内存测试系统方案。该系统旨在解决多芯片封装(MCP)的使用急剧上升所带来的问题,将能够对封装好的MCP进行单插入高度并行的全速测试。安捷伦科技的内存测试副总裁

分类:维库行情 时间:2005/7/19 阅读:859 关键词:安捷伦测试系统

MOSAID存储器测试系统升级版支持8Gb测试

MOSAIDTechnologies公司推出测试控制软件(TCS)MS4205系列存储器测试系统的升级版本,可使存储器芯片的测试能力扩大一倍,达到8Gb,这也是媒体存储产品中高密度NAND闪存的关键要求。TCS是一种用于该公司MS4205系列器件的

分类:业界要闻 时间:2005/4/13 阅读:479 关键词:测试系统