测试芯片技术资料-维库电子市场网

测试芯片

具有 10.8 Mbit 磁阻随机存取存储器 (MRAM) 存储单元阵列的原型 MCU 测试芯片（采用 22 nm 嵌入式 MRAM 工艺制造）声称可以实现超过 200 MHz 的随机读取访问频率和 10.4 MB...

设计应用时间：2024/2/28 阅读：367

创意电子(GlobalUnichip，GUC)推出90纳米ARM926EJ硬核(hard-macro)及其测试芯片(testchip)UTP0010A，为客户大幅缩短系统设计的建构时间，并为ARM核心整合的过程降低许多风险。UTP0010A以可合成

新品速递时间：2007/12/18 阅读：1433

益华计算机(Cadence)宣布，工业技术研究院(ITRI)系统芯片技术发展中心(STC)成功地利用Cadence(r)的Encounter(r)数字IC设计平台以及其RTL-GDSII低功率设计法设计出一颗低功率的测试芯片。其负责工研院的「App

新品速递时间：2007/12/5 阅读：1524

英飞凌推出测试芯片消除VIA缺陷提高产品的可靠性英飞凌公司在全球范围内率先推出一种全新方法，该方法可消除高度集成半导体电路制造过程中引起产品缺陷的一个最常见原因：过孔电气故障。“过孔（VIA）”表示“垂直互连”，指集成电路金属...

新品速递时间：2007/12/4 阅读：1569