AMD 公布 EPYC “Venice” CPU 首批基准测试结果，2nm 高性能计算芯片来袭
近日，AMD 公布了即将推出的 EPYC “Venice” CPU 的首批官方基准测试结果，这款芯片将是首批采用 Zen 6 架构的产品。虽然旗舰级 256 核心型号的具体参数尚未完全公布，但 ...
分类：业界动态 时间：2026/6/11 阅读：6334 关键词：AMD
Toshiba-东芝开始出货1200V沟槽栅SiC MOSFET测试样品，助力提升下一代AI数据中心效率
东芝电子元件及存储装置株式会社（“东芝”）今日宣布，开始提供1200V沟槽栅SiC MOSFET——“TW007D120E”的测试样品出货，该产品主要面向下一代AI数据中心电源系统，同时也适用于可再生能源相关设备。 随着生成式AI的快速发展，功耗...
时间：2026/5/26 阅读：119 关键词：Toshiba
Vishay ESD静电保护二极管通过IEEE 10BASE-T1S合规性测试
VETH100A1DD1符合OPEN Alliance关于静电保护器件的全部三项EMC测试规范 日前，威世科技Vishay Intertechnology,Inc.（NYSE股市代号：VSH）宣布，公司采用DFN1006封装的VETH100A1DD1静电保护二极管成功通过IEEE 10BASE-T1S合规性测试，...
时间：2026/5/26 阅读：118 关键词：Vishay
东芝开始出货1200V沟槽栅SiC MOSFET测试样品，助力提升下一代AI数据中心效率
东芝电子元件及存储装置株式会社（“东芝”）今日宣布，开始提供1200V沟槽栅SiC MOSFET——“TW007D120E”的测试样品出货，该产品主要面向下一代AI数据中心电源系统，同时...
分类：新品快报 时间：2026/5/22 阅读：17365 关键词：SiC MOSFET
2026 款特斯拉 Model Y 率先通过美国 ADAS 安全测试
美国国家公路交通安全管理局（NHTSA）于昨日正式对外宣布，2026 款特斯拉 Model Y 成为了美国辅助驾驶（ADAS）安全测试历史上首款通过该测试的车型，这无疑是汽车安全领域...
分类：名企新闻 时间：2026/5/8 阅读：5066 关键词：特斯拉
IEEE-在新加坡游泳池，年轻工程师为“地球最后的探索前沿”测试机器人
研发机器人本就难度极高，而要造出在无无线电信号的情况下穿越复杂水下障碍物的机器人，则更是难上加难。 十余年来，正是这项挑战，吸引了来自20多个国家的青年工程师参与新加坡自主水下机器人挑战赛（SAUVC）。该赛事自2013年起由IEE...
时间：2026/4/27 阅读：108 关键词：IEEE
Teradyne-泰瑞达推出Omnyx：重新定义AI时代的电路板测试
全球领先的自动测试设备和先进机器人供应商泰瑞达（NASDAQ:TER）近日推出突破性测试平台Omnyx，该平台专为印刷电路板组装（PCBA）和子组件打造，能够满足AI和数据中心类产品的独特测试需求。泰瑞达Omnyx将结构、参数、高速互连和功能测试...
时间：2026/4/27 阅读：144 关键词：Teradyne
Teradyne-泰瑞达推出Photon 100全面型自动测试平台，加速大规模硅光子和共封装光学量产
全球领先的自动测试设备和先进机器人供应商泰瑞达（NASDAQ:TER）近日宣布推出全面型光电自动测试平台——Photon 100，该平台专为加速大规模硅光子（SiPh）和共封装光学（CPO）量产打造。 受AI与下一代数据中心发展推动，市场对高速、...
时间：2026/4/22 阅读：151 关键词：Teradyne
半导体技术进步如何推动测试设备实现突破性发展 一辆自动驾驶汽车以每小时35英里的速度驶向路口，其激光雷达系统探测到前方有障碍物。能否精准测出与障碍物的距离是165英尺还是167英尺，将决定车辆能否及时平稳制动。多出来的这2英尺...
时间：2026/3/20 阅读：577 关键词：TI
Axiometrix-活动预告新闻稿：智能底盘测试破局指南:从动态路试到台架验证
先睹为快：研讨会内容速览|3月25日(周三)下午2-3点 当下汽车产业正迈向智能电动化深水区。智能底盘作为车辆操控、安全与驾乘体验的核心，其测试验证已从“单项达标”转向路试与台架联动、数据与决策闭环的系统化挑战。如何打通真实路...
时间：2026/3/19 阅读：128 关键词：Axiometrix
在电力电子系统领域，功率半导体器件的可靠性是至关重要的考量因素。下面我们将详细探讨功率半导体器件可靠性测试的相关内容。 为何需要开展可靠性测试？ 可靠性指的是系统或组件在规定的环境条件下与特定的时间范围内，持续保持正...
基础电子 时间：2026/7/3 阅读：182
在功率半导体器件的研发与生产过程中，高温反偏（HTRB）可靠性测试是一项至关重要的评估手段。HTRB（High Temperature Reverse Bias，高温反偏）可靠性测试属于加速寿命试验，通过温度应力和电应力双重作用，加速器件终端老化，以此激发...
基础电子 时间：2026/7/2 阅读：355
在当今电子设备高度依赖稳定电源的时代，AC - DC 适配器、DC - DC 模块及 LDO 的性能评估显得尤为重要。其中，负载调整率（Load Regulation / Load Adjustability）作为衡量电源输出电压随负载电流变化的稳定能力的关键指标，对于判定稳...
设计应用 时间：2026/7/1 阅读：364
在半导体行业，芯片从设计到量产需历经数百道工序，而测试环节犹如三道严密的质量关卡，守护着每一颗芯片的可靠性。2024 年全球半导体测试设备市场规模已达 67 亿美元，预...
设计应用 时间：2026/6/29 阅读：232
在新能源领域，BMS（电池管理系统）的测试、研发、教学等环节至关重要，而一款合适的测试工装设备能起到事半功倍的效果。今天，我们就来详细介绍一款专门为 BMS 应用打造的 1~26 串电池电芯模拟器。 这款电池模拟器是专门针对 BMS 的...
基础电子 时间：2026/6/29 阅读：255
在开关电源的设计与应用中，了解相关电路的定义、Y 电容的特性以及进行必要的安规测试至关重要。以下将详细介绍一次电路、二次电路、Y 电容的概念，以及开关电源接地、漏电流、耐压测试（安规）的相关内容，同时探讨耐压测试交流与直流的...
基础电子 时间：2026/6/29 阅读：263
在电池生产过程中，电池化成、分容设备（BFT 设备）起着至关重要的作用。BFT 设备的核心部分包括负责电池充电、放电的双向 DC - DC 变换器以及外围电压、电流采样、监控电...
技术方案 时间：2026/6/29 阅读：200
在电子实验领域，高压放大器 ATA - 2022B 凭借其出色的性能，成为众多实验中的关键设备。本次聚焦于它在波场扫描测试中的应用。 实验概况 实验方向为波动力学，所用...
设计应用 时间：2026/6/18 阅读：849
在当今科技飞速发展的时代，随着芯片制程持续朝着微缩化方向发展，工作电压不断降低，同时算力需求呈现指数级增长的态势，电源系统的稳定性已成为影响电子系统可靠性的关键...
设计应用 时间：2026/6/10 阅读：580
芯片的老化测试，本质上是借助模拟极端环境，在短时间内重现芯片长期使用后的性能退化过程。其目的在于筛选出潜在缺陷、预测芯片的使用寿命，为芯片的可靠性提供有力保障。...
设计应用 时间：2026/6/5 阅读：447
