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硅片

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源头工厂
  • 特性:

    125

  • 用途:

    太阳能电池

  • 种类:

    太阳能单晶硅片

  • 加工定制:

  • 扬州天阳光电有限公司

  • 供应商等级: 免费会员
  • 企业类型:生产企业
  • 地区:江苏扬州
  • 电话:86 0514 87888708

    手机:13815848958

  • 型号/规格:

    G-8

  • 品牌/商标:

    iBoo

iBoo太阳能硅片烧结炉温测试仪 *服务热线: 型号:iboo-G6-850 iboo-G8-850 iboo-G10-850 iBoo太阳能板烧结炉温跟踪仪主要应用于太阳能硅片银浆的高温烧结而**的一款仪器,它可以*的测试记录太阳能板在烧结时的实际...

  • 特性:

    p型

  • 用途:

    回收

  • 种类:

    化合物半导体

  • 加工定制:

  • 是否提供加工定制:

  • 品牌/商标:

    SURE

  • 型号/规格:

    ALL

  • 吸盘类型:

    硅片研磨吸台、晶圆抛光吸台、石英研磨吸盘、晶体研磨吸盘

  • 吸盘形状:

    矩形

  • 台面尺寸:

    460*200(各种尺寸供选择)(mm)

  • 电压:

    220(V)

  • 功率:

    2000~3000(W)

  • 型号/规格:

    iboo-400-4

  • 品牌/商标:

    iboo

太阳能硅片烧结 型号:iboo-G6-850 iboo-G8-850 iboo-G10-850 iBoo太阳能板烧结炉温跟踪仪主要应用于太阳能硅片银浆的高温烧结而**的一款仪器,它可以*的测试记录太阳能板在烧结时的实际温度,从而让企业*掌握炉温,...

  • 型号/规格:

    6寸 8寸 12寸

  • 品牌/商标:

    centertek

直径:300±0.2 mm 表面状况:无划痕和粘污物 标准厚度:775±25 µm 边缘:无崩边,隐裂,微裂 TTV+TIR+Warp ≤40UM 8寸规格: 直径:200±0.2 mm 表面状况:无划痕和粘污物 标...

  • 型号/规格:

    单晶硅片125*125

  • 品牌/商标:

    瑞晶

张家港瑞晶光电科技有限公司|(以下简称张家港瑞晶光电)始建于2010年9月,地处于*文明卫生城市--江苏张家港市扬子江化工园内,北枕长江,南接苏、锡、常等经济*,东壤上海,临江达海,交通便捷。 张家港瑞晶光电由...

    产品名称:*静电芯片盒、硅片包装盒、晶元盒 品牌:TJ 型号:TJ-001 材质:*静电ABS 产品:SGS 用途范围:芯片包装我公司生产的*静电芯片包装盒采用*静电ABS制成,颜色黑色,表面电阻在10的5~8次方欧姆。芯片盒的外型尺...

      品牌:NANFENG 型号:CP6 形式:电动 电源电压:220(V) 送料形式:多种 脚长:120(mm) 加工量:1500 外形尺寸:360(mm) 重量:500(kg)自动插片机是将硅片由人工分片后自动*片盒的新型自动化设备。***生产效率和成品率...

        品牌:鑫和泰 化学类型:单晶硅太阳电池 工作电压:200(V) 型号:6英寸项 目规 格导电类型P型同心度≤0.2mm电阻率范围1.0-3.0Ω·㎝厚度值200&plu*n;20um边长(125&...

          品牌:大亚 型号:125*125125*125单晶硅成品整片!!

            种类:元素半导体 用途:制作太阳能电池尺寸:125mm*125mm电阻率:1~3ohm·cm 少子寿命≧10μs(2mm的样片钝化)厚度:200&plu*n; 20μmTTV≦30μm氧含量≦ 1.0 ...

            硅片技术资料

            • 不良太阳能电池片的控制流程

              硅片是太阳能电池片的载体,硅片质量的好坏直接决定了太阳能电池片转换效率的高低。太阳能电池片的优劣需要通过测试分选,而对于不良的太阳能电池片,生产过程如何控制呢?下面是不良的太阳能电池片的控制流程:  1、领料时清点发料单上数量,档次(效率或功率)与实物是否相符;  2、拆...

            • 太阳电池用多晶硅片

              本标准规定了太阳电池用多晶硅片的术语定义、符号及缩略语、产品分类、技术要求、试验方法、检测规则以及标志、包装、运输、贮存等。  本标准适用于铸锭多晶切片垂直于长晶方向生产的太阳电池用多晶硅片。

            • GBT 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法

              本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。  本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)提出并归口。

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