东芝电子元件及存储装置株式会社（“东芝”）今日宣布，进一步扩展ThermoflaggerTM过温检测IC产品线---“TCTH0xxxE系列”。该系列可用于具有正温度系数（PTC）热敏电阻的简单电路中，用来检测电子设备中的温度升高，六款新产品于今日开始支持批量出货。
为了使电子设备按规定运行，半导体和其他电子元件必须在设计参数范围内工作。内部温度是一个关键参数，特别是当它高于设计流程中的假设温度时，它就可能成为安全性和可靠性方面的一个主要问题，因此需要过温监测解决方案来检测任何温度升高。
当配置在具有PTC热敏电阻（其电阻值随温度变化而变化）的简单电路中时，ThermoflaggerTM过温检测IC不仅可以检测温度升高，还可以检测置于热源附近的PTC热敏电阻的电阻变化，并在温度过高时输出FLAG信号。例如，当ThermoflaggerTM检测到异常发热情况并向MCU发送FLAG信号时，MCU将关闭设备或改变正在产热的设备或半导体的运行方式。通过串联PTC热敏电阻可同时在多个点进行过温检测。
这六款新产品分别是：TCTH011AE、TCTH012AE、TCTH021AE、TCTH022AE、TCTH011BE和TCTH012BE。上述产品加上已经发布的TCTH021BE和TCTH022BE，进一步扩展了TCTH0xxxE系列产品线，使该产品线增加至8款产品。通过提供对两种类型的PTCO输出电流[1]的支持，新产品扩大了PTC热敏电阻的可选范围，既可选择推挽型或开漏型FLAG信号输出类型[2]，也可选择使用或不使用FLAG信号锁存功能[3]。扩大产品选择范围，可以实现低电流消耗的灵活电路设计。
新产品采用小型，符合行业标准SOT–553封装（东芝的封装名称为：ESV），确保TCTH0xxxE系列支持用户为成套电子设备轻松配置过温检测系统，并助力实现尺寸和功耗的双重改善。
除了已经发布的参考设计过温检测IC ThermoflaggerTM的应用电路（TCTH021BE／开漏型）之外，东芝在其官网上又发布了新版参考设计：过温检测IC ThermoflaggerTM应用电路（TCTH021AE／推挽型）。
