东芝推出适用于半导体测试设备中高频信号开关的小型光继电器

类别：新品快报　出处：网络整理　发布于：2023-10-18 11:30:34 | 317 次阅读

　　东芝电子元件及存储装置株式会社（“东芝”）今日宣布，推出采用小巧纤薄的WSON4封装的光继电器“TLP3475W”。它可以降低高频信号中的插入损耗，并抑制功率衰减[1]，适用于使用大量继电器且需要实现高速信号传输的半导体测试设备的引脚电子器件。该产品于近日开始支持批量出货。
　　TLP3475W采用了东芝经过优化的封装设计，这有助于降低新型光继电器的寄生电容和电感。降低插入损耗的同时还可将高频信号的传输特性提高到20GHz（典型值）[2]——与东芝现有产品TLP3475S相比，插入损耗降低了约1/3[2]。
　　TLP3475W采用厚度仅为0.8mm（典型值）的小巧纤薄的WSON4封装，是目前业界的[3]光继电器，其成功的改善了高频信号传输特性。它的厚度比东芝的超小型S-VSON4T封装还薄40%，且支持在同一电路板上贴装更多产品，将有助于提高测量效率。
　　东芝将继续扩大其产品线，为更高速和更强大功能的半导体测试设备提供支持。

　　S21插入损耗特性
　　应用：
　　- 半导体测试设备（高速存储器测试设备、高速逻辑测试设备等）
　　- 探测卡
　　- 测量设备
　　特性：
　　- 业界的[3]WSON4封装：1.45mm×2.0mm（典型值），厚度＝0.8mm（典型值）
　　- 改善高频信号的传输：当插入损耗（S21）＝–3dB时，f＝20GHz（典型值）
　　- 常开功能（1-Form-A）

关键词：继电器

上一篇：Littelfuse宣布推出采用改进型SOT－223－2L封装的 800V N沟道耗尽型MOSFET

下一篇：JBD合肥工厂一期项目竣工！

全年征稿 / 资讯合作

稿件以电子文档的形式交稿，欢迎大家砸稿过来哦！

联系邮箱：3342987809@qq.com

版权与免责声明

凡本网注明“出处：维库电子市场网”的所有作品，版权均属于维库电子市场网，转载请必须注明维库电子市场网，https://www.dzsc.com，违反者本网将追究相关法律责任。

本网转载并注明自其它出处的作品，目的在于传递更多信息，并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性，不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时，必须保留本网注明的作品出处，并自负版权等法律责任。

如涉及作品内容、版权等问题，请在作品发表之日起一周内与本网联系，否则视为放弃相关权利。

东芝推出适用于半导体测试设备中高频信号开关的小型光继电器

全年征稿 / 资讯合作

版权与免责声明

相关资讯

热门标签推荐

维库芯视频>>

热点排行

日

周

月

热门标签

最新百科

最新技术资料

PDF下载

东芝推出适用于半导体测试设备中高频信号开关的小型光继电器

全年征稿 / 资讯合作

版权与免责声明

相关资讯

热门标签推荐

维库芯视频>>

热点排行 日 周 月

热门标签

最新百科

最新技术资料

PDF下载

热点排行

日

周

月