S11850-1106 背照式CCD面阵传感器
日本滨松
14 x 14 μm
28.672 x 0.896 mm
降低标准具效应、象元温度恒温控制 S11850-1106/11851-1106是适用于分光光度测量的背照式CCD。有两种类型可选择,一种是低噪声类型(S11850-1106),一种是高速型 (S11851-1106),它们都降低了标准具效应。从紫外到近红外波段,它们具有几乎平滑的光谱响应特性,还有着高量子效率。封装内部有热电制冷器,可以保持象元温度在工作时恒定(约5摄氏度)。 特性 - 降低标准具效应 - 平滑的响应曲线 - 温度控制 - CCD结灵敏度高:6.5 μV/e- - 高满井容量,宽动态范围(带抗溢流功能) 详细参数 类型 低标准具效应型 感光面积 28.672 x 0.896 mm 像素尺寸 14 x 14 μm 像素间距 14 μm 有效像素个数 2048 x 64 pixels 封装 金属 帧速率(典型值) 106 frames/s 光谱响应范围 200 to 1100 nm 饱和电荷量(典型值) 60 ke- 暗电流(典型值) 50 e-/pixel/s 读出噪声(典型值) 6 e- rms 测试条件 Ta=25 ℃,除非注明,均为典型值。帧速率: 满线合并(full line binning),暗电流: MPP 模式 光谱响应 外形图(单位:mm)
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