类别：其他 出处：网络整理 发布于：2024-12-31 10:27:54 | 101 次阅读
Plastronics 品牌在老化测试行业已有 50 多年的历史，在同行业内拥有多的QFN 产品测试插座料号，凭借其高可靠性及完整的产品线，被广泛应用在各芯片公司的老化测试项目，与客户合作伙伴建立了牢固的关系。
史密斯英特康的芯片老化性测试包括了极端工作环境测试，即在高温（HTOL）100度至150度的模拟使用环境下持续测试数小时或者在低温（LTOL）等环境中芯片测特性变化并收集收据；加速老化测试（HAST），模拟芯片的使用过程，对其进行加速检测，测试芯片使用中的参数变化；可靠性测试，检测芯片引脚丝球、焊点、线弹性等方面的可靠性测试等。这些测试项目可以直接反应出芯片的使用寿命与整体封装质量，目的就是在芯片进入下一个流程（功能测试）之前，筛选出存在早期失效或潜在缺陷的那些元器件。经过老化测试的芯片在其工作寿命内的故障率远低于未测试过的 IC芯片。
史密斯英特康的老化测试可应用于实验室IC编程设计测试、电脑、汽车电子等测试，可同时提供开模测试插座和机钻工的老化测试插座组合，满足客户大批量采购及以及高精度定制化产品需求。史密斯英特康通常在IC设计开发阶段，就会参与客户研发验证为客户提供技术支持，并在量产阶段提供测试产品。
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