Agilent(安捷伦)科技公司日前宣布：Agilent与HynixSemiconductorInc.(海力士半导体公司)携手推出一款高带宽、高性能的长线ZIF(零插入力)探针，该探针经过优化，适用于DDR(双数据速率)和GDDR(图形双数据速率)
分类：新品快报 时间：2009/3/13 阅读：1242
预计2008年晶圆探针卡销售收入达到14.1亿美元 较去年增长3.4%
据市场研究公司VLSIResearch发表的研究报告称，半导体行业疲软使集成电路晶圆探针卡2007年的销售收入增长率降到了五年平均增长率（13.9%）的一半。这篇报告警告称，2008年内存集成电路市场厂商来说将是更困难的一年。2008年集成电路
分类：行业趋势 时间：2008/5/24 阅读：392
市场研究公司VLSIResearch发表的研究报告称，半导体行业疲软使集成电路晶圆探针卡2007年的销售收入增长率降到了五年平均增长率（13.9%）的一半。这篇报告警告称，2008年内存集成电路市场厂商来说将是更困难的一年。2008年集成电路晶
分类：行业趋势 时间：2008/5/22 阅读：311
德国SUSS 参展SEMICON Japan2007 实机展示提高抗电磁干扰性能的探针系统
据日经BP社报道，德国苏斯微系统（SUSSMicroTecAG）在SEMICONJapan2007上展示了具有超高灵敏度的微信号测定半自动探针系统PA300PS（probeshield）以及数字成像显微镜iVista，该系统可用于300mm晶圆制造
分类：业界要闻 时间：2007/12/6 阅读：335
据EETimes网站报道，新加坡EllipsizLtd.称旗下子公司SVProbe在越南新开了一家探针卡工厂。该工厂占地4000平方米位于BinhDuongProvince的VSIP（Vietnam-SingaporeIndustrialPark）
分类：名企新闻 时间：2007/11/14 阅读：595
FormFactor发表Harmony全区12寸晶圆针测解决方案的成员——Harmony晶圆级预烧(Wafer-LevelBurn-In，WLBI)探针卡。HarmonyWLBI探针卡能提高作业流量，并且确保半导体元件的品质与可靠度。Harmo
分类：新品快报 时间：2007/11/12 阅读：345
FormFactor 发表业界首款单次接触12吋晶圆探针卡解决方案
FormFactor日前发表Harmony全区12吋晶圆针测解决方案的成员–Harmony晶圆级预烧（Wafer-LevelBurn-In；WLBI）探针卡。HarmonyWLBI探针卡不仅能提高作业流量，还能确保半导体组件的质量与可靠度。Ha
分类：名企新闻 时间：2007/11/10 阅读：1161
DRAM厂新产能持续开出，尽管造成DRAM供过于求的压力，却带动后段测试探针卡市场需求，台湾探针卡供货商旺硅（6223）直接受惠，明年底DRAM探针卡产品市占率，可望由现在的5%以内，大幅增加至三成左右，不仅可带动业绩大幅成长，更打破过去由外商
分类：行业访谈 时间：2007/10/9 阅读：201 关键词：DRAM
FormFactor推出探针测接新技术，可在300毫米晶片上获1000倍接点
FormFactor声称已经开发出突破性的探针测接(probingcontact)新技术。与当前的探针能力相比，FormFactor的新技术将间距缩小10倍，在300毫米的晶片上获得1000倍的接点。这个新技术能够用于内存、逻辑、SOC和参数测试应
分类：名企新闻 时间：2007/7/31 阅读：963
扫描电化学显微镜(SECM)是80年代发展起来的一种电化学现场检测新技术。该技术驱动非常小的电极(探针)在靠近样品处进行扫描,样品可以是金属、半导体、高分子、生物基底等材料。SECM具有化学灵敏性，可测量微区内物质氧化或还原所产生的电化学电流，...
分类：业界要闻 时间：2007/6/5 阅读：592 关键词：显微镜
FormFactor发表PH150XP晶圆探针卡，扩展其PH150系列DRAM晶圆测试产品的阵容。PH150XP探针卡提供多项良率与处理量提升的功能，让DRAM制造商能进一步降低整体测试成本。PH150XP探针卡样本已开始供应予各大内存领导制造商进
分类：新品快报 时间：2007/5/8 阅读：916 关键词：DRAM
FormFactor推出HarmonyXP探针卡，扩增其Harmony系列全区域12吋晶圆探针卡产品阵容，先进的晶圆侦测解决方案支持高密度行动通讯、一般商品以及绘图产品专用DRAM组件，为每粒晶圆带来整体测试成本。专为这些装置之高标准技术挑战而
分类：新品快报 时间：2007/2/27 阅读：909
关心点触之间的精度-如何选用合适的探针进行有效探测的关键因素之一是进行测头探针的选择，是否能够触测到特征并在接触时保证一定的精度是使用者应当重点考虑的事情。目前，探针的种类很多，包括了各种形状和不同的制作材料。本文将重点对探针的主...
分类：新品快报 时间：2006/9/13 阅读：1275
Fluke561二合一测温仪融合一流的接触式和非接触式测温技术，采用红外非接触式测温技术的快速性、方便性、灵活性、安全性等特点和K型热电偶在测试金属物体温度测量、内部温度测量以及环境温度测量时的准确度和灵活性，并有多种探头样式可供选择，能...
Fluke561二合一测温仪融合一流的接触式和非接触式测温技术，采用红外非接触式测温技术的快速性、方便性、灵活性、安全性等特点和K型热电偶在测试金属物体温度测量、内部温度测量以及环境温度测量时的准确度和灵活性，并有多种探头样式可供选择，能...
